某研究小組用如圖所示裝置進(jìn)行銅與濃硫酸反應(yīng)的實(shí)驗(yàn)研究．
（1）寫出試管B中的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象______．
（2）寫出A中反應(yīng)的化學(xué)方程式______
（3）繼續(xù)向A試管中加入H₂O₂，發(fā)現(xiàn)銅片溶解，反應(yīng)的離子方程式為：______．
若仍不補(bǔ)充濃硫酸，只要求使銅片溶解，也可以加入（填寫兩種屬于不同類別物質(zhì)的化學(xué)式）______、______．
（4）B試管口的棉花應(yīng)沾有的試劑是______．
（5）小組成員向反應(yīng)后的溶液中加入足量的氧化銅，使剩余的硫酸全部轉(zhuǎn)化為硫酸銅，過濾后，將濾液加熱濃縮，冷卻結(jié)晶制得硫酸銅晶體（CuSO₄?xH₂O）．小組成員采用加熱法測(cè)定該晶體里結(jié)晶水x的值．
①在他們的實(shí)驗(yàn)操作中，至少稱量______次；
②下面是其中一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)：

坩堝質(zhì)量	坩堝與晶體的總質(zhì)量	加熱后坩堝與固體總質(zhì)量
11.7g	22.7g	18.9g

根據(jù)上表數(shù)據(jù)計(jì)算判斷x的實(shí)側(cè)值比理論值（x=5）______（填“偏大”、“偏小”），這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是______（填序號(hào)）
A．硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)的雜質(zhì)　　　　B．實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水
C．加熱時(shí)有晶體飛濺出去　　　　　　　　D．加熱失水后露置在空氣中冷卻．

某研究小組用如圖所示裝置進(jìn)行銅與濃硫酸反應(yīng)的實(shí)驗(yàn)研究。

（1）寫出試管B中的實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象____________________________________。

（2）寫出A中反應(yīng)的化學(xué)方程式：___________________________。

（3）充分反應(yīng)后，若A試管中有銅片剩余，繼續(xù)向A中加入H₂O₂，發(fā)現(xiàn)銅片溶解，反應(yīng)的離子方程式為__________。

（4）充分反應(yīng)后，若A試管中無銅片剩余，但出現(xiàn)白色混濁，該白色固體是________，初步確認(rèn)該白色固體是什么物質(zhì)的實(shí)驗(yàn)操作方法是__________________。

（5）B試管口的棉花應(yīng)沾有的試劑是____________________________________。

（6）小組成員向（3）反應(yīng)后的溶液中加入足量的氧化銅。使剩余的硫酸全部轉(zhuǎn)化為硫酸銅，過濾后，將濾液加熱濃縮，冷卻后結(jié)晶制得硫酸銅晶體（CuSO₄?xH₂O）。小組成員采用加熱法測(cè)定該晶體里結(jié)晶水x的值

①在他們的實(shí)驗(yàn)操作中，至少稱量四次，最后兩次稱量的目的是         

②下面是其中一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)：

根據(jù)上表數(shù)據(jù)計(jì)算判斷x的實(shí)測(cè)值比理論值（x＝5）____________（填“偏大”、“偏小”），這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是__________（填序號(hào)）

A．硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)的雜質(zhì)      B．實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水

C．加熱時(shí)有晶體飛濺出去              D．加熱失水后露置在空氣中冷卻