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          關(guān)于薄膜干涉，下列說(shuō)法正確的是
          A．干涉條紋的產(chǎn)生是由于光線(xiàn)在膜的前后表面反射，形成的兩列光波疊加的結(jié)果
          B．增透膜的最小厚度應(yīng)是入射光在該膜中波長(zhǎng)的 
          C．干涉條紋是等間距的平行線(xiàn)時(shí)，說(shuō)明膜的厚度處處相等
          D．觀察薄膜干涉條紋時(shí)，應(yīng)在入射光的同一側(cè)觀察
          			
          


			
		
          
		
				
          
				練習(xí)冊(cè)系列答案
		
          
		
				
			

					
          
				相關(guān)習(xí)題
			
          
						
		
          
			
          
				科目：高中物理
				來(lái)源：高考三人行　物理
				題型：013
			
          

						
          

          關(guān)于薄膜干涉，下列說(shuō)法正確的是
          

          [　　]
          

          A．干涉條紋的產(chǎn)生是由于光線(xiàn)在膜的前后兩表面反射形成的兩列光波疊加的結(jié)果
          

          B．干涉條紋中的暗紋是由于上述兩列反射光的波谷與波谷疊加的結(jié)果
          

          C．干涉條紋是等間距的平行線(xiàn)時(shí)，說(shuō)明膜的厚度處處相等
          

          D．觀察薄膜干涉條紋時(shí)，應(yīng)在入射光的另一側(cè)
          

          

			
          

			
          
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				科目：高中物理
				來(lái)源：四中大考卷-高二物理（下冊(cè)）、單元測(cè)試10 光學(xué)測(cè)試
				題型：021
			
          

						
          

          關(guān)于薄膜干涉，下列說(shuō)法中正確的是
          

          A．干涉條紋的產(chǎn)生是由于光在膜的前后兩個(gè)表面反射，形成的兩列光疊加的結(jié)果
          

          B．干涉條紋中的暗條紋是由于上述兩列反射光的波谷與波谷疊加的結(jié)果
          

          C．干涉條紋是平行等間距的平行線(xiàn)時(shí)，說(shuō)明膜的厚度處處相等
          

          D．觀察薄膜干涉條紋時(shí)，應(yīng)在入射光的同一側(cè)
          

          

			
          

			
          
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				科目：高中物理
				來(lái)源：
				題型：單選題
			
          

						
          關(guān)于薄膜干涉，下列說(shuō)法中正確的是

          1. A.
            只有厚度均勻的薄膜，才會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象
          2. B.
            只有厚度不均勻的楔形薄膜，才會(huì)發(fā)生干涉現(xiàn)象
          3. C.
            厚度均勻的薄膜會(huì)形成干涉條紋
          4. D.
            觀察肥皂液膜的干涉現(xiàn)象時(shí)，觀察者應(yīng)和光源在液膜的同一側(cè)
          

			
          

			
          
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				科目：高中物理
				來(lái)源：
				題型：
			
          

						
           關(guān)于薄膜干涉，下列說(shuō)法中正確的是（       ）
          A．干涉條紋的產(chǎn)生是由于光在膜的前后兩表面反射形成的兩列光波疊加的結(jié)果
          B．干涉條紋中的暗條紋是由于上述兩列反射光的波谷與波谷疊加的結(jié)果
          C．干涉條紋是等間距的平行線(xiàn)時(shí)，說(shuō)明膜的厚度處處相等
          D．觀察薄膜干涉條紋時(shí)，應(yīng)與入射光在薄膜的同一側(cè)
           
          

			
          

			
          
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